SJ 50033.153-2002 半导体分立器件 2CK141型微波开关二极管详细规范
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7 |
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日期： |
2009-6-11 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/153-2002,半导 体 分 立器件,2CK141型微波开关二极管,详 细 规范,Semiconductor discrete devices,Detailsp ecificationf orty pe2 CK141m icrowaves witchd iode,2002-10-30发布2003-03-01实施,中华人民共和国信息产业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导 体 分 立器件,2CK141型微波开关二极管,详 细 规范,SJ 50033/153-2002,Semiconductor discrete devices,Detailsp ecificationfo rty pe2 CK141m icrowaves witchd iode,1 范围,1.1 主题内容,本规 范 规 定了2CK141型微波开一关匕芬墩肚.以下渭称器卿’锄详细要抵,1.2 适用范围,本规 范 适 用于器件M 制、!-挑和架购,1，3.分类,本规 范 根 据器件质_:保证等级进行分笼类，、,1.3.1器件的等纷,按 GJB 33 A---97 A,半导体分立器件总规范》，:，盗的规定，提供的演髯一眯证等攀万补共特军和超,特军三级，分别用字一母沙巧JT和JCT表示,2 引用文件,GB /T6 5 70 --彝6、淑波二极管测试万法,GJB 3 3 A- --19劲洲半导体分立器件总规范,GJ B1 28 A-1997,,!}-半导体分立器件试验方法,3 要求,3.1 详细要求,各项 要 求 应符合GJB3 3A和本规范的.规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件 的 设 计、结构和外形尺寸应按石用33A ,和军规范的叔徒全,3.2.1 引出端材料和镀层,器 件采 用 玻璃管壳封装，引出端材料为无软铜，表面镀层为锡.,3.2.2 器件结构,本器 件 采 用硅正外延PIN台式结构，玻璃管壳实体封装,中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施,1,SJ 50033/153- 2002,3.2.3 外形尺寸,器件采用玻壳封装，外形尺寸见图to,负极标志,4,t业,尺寸代号最小最大,必0.4 0.6,必口l二7 2.1,G 6,L 25,图1 外形尺寸,3.3,3.3. 1,最大额定值和主要电特性,最 大额定值,最大额定值见表1,表1 最大额定值,丫\工作电压Vni,V,耗散功率PnI),(TA =25C ),W,存贮温度T"$,℃,工作溢度Tap,℃,2CK141 150 0.4 -55---175 -55^-125,1) T >25℃时，按2.67 mW/K线性降额,3.3。2 主要电特性,主要 电 特 性见表2( TA=250C ) o,表2 主要电特性,片fR,vA,玲,V,C，L-5b1,PF,rF,O,t,:,ns,VR=150 V 厅=100 mA 八=50 V,产1 MHz,乍20 mA,户50 Hz,介二10 mA,人=100 mA,最大值最大值最大值最大值最人值,2CK141 10 1.0 1.2 2.5 200,SJ 50033/153- 2042,3.4 电测试要求,电测 试 应 符合GBIT6 570及本规范的规定,3。5.J标志,本器件极性标志见图1,器件外包装上的标志应符合GJB 33A的规定,4 质量保证规定,4.1抽样和检验,抽样 和 检 验应按GJB3 3A及本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定 检 验 应按GJB3 3A和本规范表4、表5,表4,6.,和表3.,豹规定进行,4.3 筛选(仅对JT和JCT级),筛选 应 按 GJB3 3A的规定，贬只林筛选擎冰孩裂J敌老犷1其v瑟按熟4的规定进行，超过表4极限,值的器件应予以剔除,表 3 筛 选 要 求,筛选,gJB 128A,方狱 Ml:,条件和V-截,lC'1巍}J}`0:,1内部目检‘2074‘一卜、咬对‘J吐极概件,2高温寿命1032 175哪胜4h:,3温度循环,(空 气一空气),乍051 试验条件G, 20次,10高温反偏,犷‘ 、 “ ;,'1038` :，斌验某什A=``;TAr1.5 0',C,VR = 120Vr'孙h,i1中间测试IA. 1"F.醚 =瑞知、1扮,12功率老炼,},、103A ’,矛,{=T^25梦、:扒偏爪戮加秘信号最，。孤‘I斤FMmg50 1t}A;Vx i}f-150V*,:呱扮乡,” 最后测试,+:按奥R,}tf:I} 4 A 2分组规定’‘,}△rF}_0.z。;,}A Ctet。一、，I<初始值的10%a,4.4 质量一致性检验,质量 一 致 性检验按GJB3 3A和本婉范的规定乒,4.4.1 A组检验,A 组检 验 按GJB3 3A和本规范表4规定进行,4.4.2 B组检验,B组 检 验 按GJB3 3A和本规范表5规定进行,4.4.3 C组检验,C组 检 验 按GJB3 3A和本规范表6规定进行,4.5 检验和试验方法,检验 和 试 验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行,sJ 50033/153- 2002,表4 A组检验,试验或检验,GW T 6570,抽样方案符号,极限值,单位,方法条件最小最大,A1 分组,外观及机械检验,G形128A,20 71,乙TP公巧,A2 分组,正 向压降,反 向电流,.6电 容,正向微分电阻,3.3,3.2,3.5,34,TX= 25C,IF=100 mA,珠=150 V,户1 MHz,VR= 50V,户50 Hz,IF=2……
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